电子元器件检测

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NCTC元器件检测室简介

         国家电子计算机质量监督检验中心(NCTC)元器件检测实验室,是通过中国实验室国家认可委员会按照CNAS/CL01:2006《检测和校准认可实验室能力认可准则》(Idt ISO/IEC17025-2005)的要求认可的专业检测实验室。


          NCTC元器件检测室长期以来承担军、民用电子元器件的检测筛选工作,是国内最早进行集成电路尤其是超大规模集成电路测试技术研究和开发的单位之一;有一批经验丰富的元器件检测技术专家;有120多台套先进的检验、试验仪器设备;科学、准确的测试技术,诚实、诚信的公正行为,高效、优质的服务,在用户和同行业中享有很高的信誉。


实验室51

LCR:电阻、电容、电感等阻性、感性、容性器件等;
分立器件:二极管、晶体管、场效应管、晶闸管、IGBT、整流桥等;
模拟集成电路:正负压固定、正负压可调电压调整器,运算放大器、电压比较器、采样保持器、电压跟随器、精密电压基准、时基电路、光耦等。
数字集成电路: 74/54、74/54LS、74/54F、74/54ABT、74/54HC、74/54HCT、CD4000、H000、接口电路8000、通信接口电路、小中大存储器及单片机超大规模集成电路等;
数模混合集成电路:AD/DA集成电路、音频电路等;
其他电子元件:继电器、电源模块等;
环境应力筛选:元器件动态老化、高低温、温度循环、温度冲击、湿热、振动、冲击、可靠性(寿命)试验等。


元器件室认可标准清单

序号

标准号

名称

数量

备注

  1. 1

GB/T 5729-2003

电子设备固定电阻器 第一部分:总规范

1

 

  1. 2

GB/T 2693-2001

电子设备用固定电容器第1部分:总规范

1

 

  1. 3

GB/T 8554-1998

变压器和电感器测量方法及试验程序

1

 

  1. 4

GB/T 4023-1997

半导体器件分立器件和集成电路
第2部分:整流二级管

1

 

  1.  
5

GB/T 6571-1995

半导体器件 分立器件
第3部分:信号(包括开关)和调整二级管

1

 

  1.  
6

GB/T 4587-94

半导体器件分立器件和集成电路
第7部分:双极型晶体管

1

 

  1. 7

GB/T 4586-94

半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管

1

 

  1. 8

GB/T 15651.2-2003

半导体器件分立器件和集成电路
第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

1

 

  1. 9

GB/T15291-94

半导体器件第6部分晶闸管

1

 

  1. 10

SJ/T 10738-1996

半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

1

 

  1. 11

GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

1

 

  1. 12

GB/T 4377-1996

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

1

 

  1. 13

SJ/T 10735-1996

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

1

 

  1. 14

SJ/T 10741-2000

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

1

 

  1. 15

GB/T14028-92

半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

1

 

16

SJ/T 10739-1996

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

1

 

  1. 17

YD/T 731-2008

通信用高频开关整流器

1

 

  1. 18

GJB 1921-94

军用微型计算机系统用开关电源通用规范

1

 

19

YD/T 1019-2001

数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆

1

 

  1. 20

GJB128A-97

半导体分立器件试验方法

1

 

  1. 21

GJB 360A-96

电子及电气元件试验方法

1

 

  1. 22

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序

1